Благодаря новому исследованию количество отказов электронных устройств вскоре можно будет сократить

Исследователи из Калифорнийского университета в Боулдере сделали важный шаг вперед в сочетании передового компьютерного моделирования с искусственным интеллектом, чтобы попытаться предсказать и обнаружить сбои в электронике, такие как отказ транзистора в мобильных телефонах.

Это исследование было проведено Сангамитрой Неоги, аэрокосмическим инженером и физиком, и оно появилось в журнале npj Computational Materials. Неоги и другие исследователи нанесли на карту физику маленьких строительных блоков, состоящих из атомов, а затем использовали методы машинного обучения, чтобы оценить, как те же самые строительные блоки могут создавать более крупные структуры. «Это немного похоже на то, как посмотреть на один кирпичик Lego, чтобы предсказать прочность гораздо большего замка. Мы пытаемся понять физику устройств с миллиардами атомов», — сказал Неоги, доцент кафедры аэрокосмических инженерных наук. Энн и Х. Дж. Мид.

Это исследование может стать благом для электроники, составляющей нашу повседневную жизнь: от электромобилей и мобильных телефонов до новых квантовых компьютеров. Однажды, говорит Неоги, инженеры смогут использовать методы команды, чтобы предвидеть недостатки в конструкции электронных компонентов. Этот проект является частью более широкого проекта Neogi, посвященного тому, как мир очень маленьких вещей, таких как движение атомов, может помочь людям создавать новые и более эффективные компьютеры. «Вместо того, чтобы годами ждать, чтобы выяснить, почему устройства выходят из строя, наши методы позволяют нам заранее знать, как устройство будет работать, еще до того, как мы его создадим», — сказал Неоги.